题目描述:
x星球的居民脾气不太好,但好在他们生气的时候唯一的异常举动是:摔手机。
各大厂商也就纷纷推出各种耐摔型手机。
x星球的质监局规定了手机必须经过耐摔测试,并且评定出一个耐摔指数来,之后才允许上市流通。
x星球有很多高耸入云的高塔,刚好可以用来做耐摔测试。
塔的每一层高度都是一样的,与地球上稍有不同的是,他们的第一层不是地面,而是相当于我们的2楼。
如果手机从第7层扔下去没摔坏,但第8层摔坏了,则手机耐摔指数=7。
特别地,如果手机从第1层扔下去就坏了,则耐摔指数=0。
如果到了塔的最高层第n层扔没摔坏,则耐摔指数=n
为了减少测试次数,从每个厂家抽样3部手机参加测试。
如果已知了测试塔的高度,并且采用最佳策略,在最坏的运气下最多需要测试多少次才能确定手机的耐摔指数呢?
思路:
首先要弄清题目要求的是什么。 最佳策略,最坏运气,求测试次数。可以理解为:最坏运气下,最少的测试次数(最佳方案下)是多少。
dp[i][j]表示:剩i部手机的情况下,楼层数为j时,最少的测试次数(最佳方案下)为多少。
当前测试的层数为k时,则分为两种情况:
一、该次测试坏了,手机数量减一,测试下部分的楼层:dp[i - 1][k - 1] + 1
二、该次测试没坏,测试上部分楼层:dp[i][j-k]+1
两种情况取最少的测试次数(最优方案)
则状态转移方程为:
dp[i][j]=min(dp[i][j],max(dp[i-1][k-1]+1,dp[i][j-k]+1));
代码:
- #include
- #include
- using namespace std;
-
- int dp[4][10005];
- int n;
- void solve(){
- for(int i=1;i<=3;i++){
- for(int j=1;j<=n;j++){
- dp[i][j]=j;//最坏运气下,最多的测试次数是:从上到下一直测试,一直没坏,此时测试次数为楼层数
- }
- }
- for(int i=2;i<=3;i++){
- for(int j=1;j<=n;j++){
- for(int k=1;k
- dp[i][j]=min(dp[i][j],max(dp[i-1][k-1]+1,dp[i][j-k]+1));
- }
- }
- }
- cout<
3][n]< - }
- int main()
- {
- while(cin>>n){
- solve();
- }
- }
-
-
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