按原理分类: 脉冲反射法，穿透法，共振法，衍射时差法。
按显示分类: a，b，c。
按耦合方式分类: 接触法(需要耦合剂)，液浸法。
按探头数目分类: 单探头，双探头，多探头。
按入射方向: 直射，斜射。
最常见的一种技术是A型显示的单探头纵波垂直入射脉冲反射接触法。
脉冲反射法包括: 缺陷回波法，底波高度法，多次反射法。
缺陷回波法:
发射脉冲T，底面回波B，缺陷回波F
无缺陷时，无F；有F时，有缺陷。
F的高度与缺陷反射面大小，尺寸，形状，性质，以及探头至缺陷的距离有关。
缺点: 不能用于高衰减材料的检测，不能检测取向不良的缺陷，不能检测表面和近表面缺陷(存在盲区)。
底波高度法(底波衰减法):
底波高度: 无缺陷＞吸收性缺陷＞倾斜缺陷
缺点: 仅适用于上下底面平行，形状简单的工件
优点: 不存在盲区
多次底波法:
吸收性缺陷使Bi数量减少
小缺陷使Bi前面增加Fi
大缺陷使Bi消失，全是Fi
穿透法:
显示两个波，始波(发射波)与穿透波(接受波)。
工件两侧各有一个探头，一个接受，一个发射。
有小缺陷时，穿透波较小，大缺陷时，穿透波消失。
缺点: 无法得到缺陷深度，上下底面平行，灵敏度低
优点: 无盲区，可用于衰减系数大的材料
衍射时差法TOFD:
斜探头
无缺陷时: 直通波，底面反射波
有缺陷时: 直通波，上端衍射波，下端衍射波，底面反射波
TOFD图像: 灰度表示波的大小，横轴表示两个探头间距，纵轴表示探头前进距离
非平行扫查: 探头运动方向与两探头连线方向垂直
平行扫查: 探头运动方向与两探头连线方向平行
纵波穿透能力强，可探测的厚度大
双晶探头脉冲反射法:
无缺陷: 始波，界面直接反射波，底面反射波
有缺陷: 始波，界面直接反射波，缺陷波，底面反射波
适用于检测近表面缺陷
斜射声束会在工件中产生: 纵波与横波 或 横波 或 表面波 或 板波。
产生纵波与横波时，检测所用的是纵波。
产生斜射声速的方法: 接触法斜角探头，水浸直探头
产生纯横波的方法: 接触斜角法，横波水浸法
接触斜角法:
斜楔为有机玻璃，工件为钢。
无缺陷: 声束在上下表面反射形成W路径，无回波，只有初始波。
有缺陷: 有回波。
纵波斜射法:
同时产生纵波与横波，利用纵波检测。
对于厚度大的工件，横波由于传播速度比纵波小，不会对检测产生影响。
表面波:
斜角探头产生表面波。
始波与缺陷波间的距离和探头与缺陷的距离相关。
板波法:
用于薄板，薄壁管，工件厚度小于6mm。
常使用可变角探头。
单探头法:
要求主反射面与声束轴线垂直
并列双探头法:
两个探头同步同向移动，用于较薄的工件。
一个固定，一个移动，用于检测倾斜缺陷。
交叉双探头法:
用于检查与检测面垂直的片装缺陷，如焊缝检测中的横向缺陷。
K形，V形串列式双探头法:
K形用于检查与检测面垂直的片装缺陷；
V形用于检查与检测面平行的片装缺陷。
串列式双探头法:
用于检查与检测面垂直的片装缺陷，如U形坡口焊缝或窄坡口焊缝中的未融合。
液浸法:
无缺陷: 始波，界面波，底波
有缺陷: 始波，界面波，缺陷波，底波
仪器和探头组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区(仅限直探头)和远场分辨力。
单晶直探头盲区: 始脉冲宽度和阻塞时间的总和
声程: 声束走过的路程